深圳市英特瑞斯电子有限公司
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产品分类

GO10-SME 传感器
GO10-SME 传感器
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GO10-SME 传感器

型号:

GO10-SME

厂家:

LEM

批次:

17+

数量:

1800

产品信息

目前市场出现较多的偷工减料的吸收电容,好进行用低价格吸引客户,其实这样是不明智的,因为一个吸收电容的价格和一个模块的价格,相差的不是一点点,不能因小失大

美国航天航空指定品牌,世界三大电容厂商,美国CDE电容器,它的作用如下:

1:美国CDE吸收电容的作用

母线电感以及缓冲电路及其元件内部的杂散电感,对IGBT 电路尤其是大功率IGBT 电路,有极大的影响。因此,希望它愈小愈好。要减小这些电感,需从多方面入手。,直流母线要尽量地短;第二,缓冲电路要尽可能地贴近模块;第三,选用低电感的聚丙烯无极电容,与IGBT 相匹配的快速缓冲二极管,以及无感泄放电阻;第四,其它有效措施。目前,缓冲电路的制作工艺也有多种方式:有用分立件连接的;有通过印制版连接的;更有用缓冲电容模块直接安装在IGBT 模块上的。显然,一种方式因符合上述第二、第三种降感措施,因而缓冲效果,能限度地保护IGBT 安全运行,美国CDE吸收电容在这方面是世界早的鼻祖,的。

2:CDE吸收电容的结构特点

美国CDE吸收电容双面金属化膜内串结构、特别的内部设计和端面喷金技术,使电容具低感抗,多条引线设计,可承受更高纹波电流,高du/dv以及高过压能力。用于各类IGBT缓冲线路突波吸收,各类高频谐振线路。电容结构: 双层金属化膜,内部串联结构,封装: 阻燃塑胶外壳,环氧树脂封装,符合(UL94V-0 )标准,尺寸: 适合于各种IGBT保护。

3吸收电容的技术参数

美国CDE电容量: 0.0047 to 6.8μF,额定电压: 700 to 3000 Vdc损耗角正切:测试条件 1000±20 Hz , 25±5℃.Cr≤1.0μF, 4×10-4; Cr>1.0μF, 6×10-4 绝缘电阻: 3000s,s= MΩ. μF测试条件 1 minute,100Vdc (25±5℃)耐电压: 2Ur (DC)测试条件 10s,t 25±5℃,1Min工作温度: -40~+85℃

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